检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:张英华 张刚[1] Zhang Yinghua;Zhang Gang(The 29th Research Institute of CETC,Chengdu Sichuan,610036)
机构地区:[1]中国电子科技集团公司第二十九研究所,四川成都610036
出 处:《电子测试》2021年第18期63-65,7,共4页Electronic Test
摘 要:本文主要介绍了利用UCAM和CAM350对AUTOCAD设计的LTCC基板进行网络关系检查和飞针测试的方法。针对产品腔槽结构特点和集成电阻情况,特别讲述LTCC基板盲腔底部焊盘测试的编程方法,结合DPS2软件对内埋电阻和表层电阻集成测试的编程方法。实现LTCC设计图纸网络正确性检查及LTCC复杂结构产品飞针测试。This article introduces how to export the netlist of LTCC designed by AUTOCAD,the netlist can be used to examine the layout,and the flying probe test can use this netlist either.Aiming at the cavity groove and integrated resistance of the product,this paper especially decribes the programming method of the bottom pad test of the blind cavity of LTCC substrates,combined with the program method of the buried and surface resistance by the DPS2 software.By this method we can check the LTCC design drawing network relationship and do the flying needl test of the complex structure LTCC products.
分 类 号:TN04[电子电信—物理电子学]
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