航顺HK32MCU闩锁效应问题研究及预防措施  

作　　者：刘吉平 郑增忠 

机构地区：[1]深圳市航顺芯片技术研发有限公司

出　　处：《中国集成电路》2021年第12期86-88,95,共4页China lntegrated Circuit

摘　　要：0前言随着航顺HK32MCU芯片在市场上被越来越多工程师选择应用,在实际应用中,有些硬件工程师出于降低成本的考虑,在硬件电路设计时就MCU电源部分设计过于简单;有些由于对数字电路不够熟悉,设计电路时过于随意,I/O口高电平直接接在电源上;有些在使用过程中非常规操作等等,导致在MCU上电阶段小概率出现MCU工作不正常,芯片发热甚至烧毁的现象。究其原因,是在某些极端的条件下芯片内部触发了闩锁效应。

关 键 词：闩锁效应 数字电路 硬件工程师 电源部分 MCU I/O口 高电平 设计电路 

分 类 号：TN402[电子电信—微电子学与固体电子学]