检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:无
机构地区:[1]芯和半导体
出 处:《中国集成电路》2021年第12期89-95,共7页China lntegrated Circuit
摘 要:随着电子产品工作频段的增加和工作频率的提高,面对多样的电子互连工艺以及更小的互连线尺寸,PCB电子互连领域的集成商在印制电路板、封装基板领域,电子装联设计制造测试过程中会遇到高速、高频、小型化等设计制造测试的多种挑战,如:阻抗控制与叠层设计、实现电路高速高频参数的提取、层压材料的介电常数(Dk)和介电损耗(Df)提取、评估封装基板/SIP/PCB等信号电源完整性问题、加工精度对高速互连的影响、高频自动化测量等。本文将从PCB及电子互连行业的业务场景出发,来分析如何应对这些挑战。
关 键 词:自动化测量 阻抗控制 测试解决方案 层压材料 印制电路板 电子产品 电源完整性 电子装联
分 类 号:TN41[电子电信—微电子学与固体电子学]
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