检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:程佳佳[1] CHENG Jiajia(Chongqing Creation Vocational College,Chongqing 402160,China)
机构地区:[1]重庆科创职业学院,重庆402160
出 处:《集成电路应用》2021年第12期36-37,共2页Application of IC
摘 要:阐述ESD和ESD防护技术的特点,出现静电会带来的危害,针对不同的危害方式,提供对应的优化方案和合适的技术,从而降低集成电路器件应用中的静电现象。This paper expounds the characteristics of ESD and ESD protection technology, the hazards caused by static electricity, and provides corresponding optimization schemes and appropriate technologies for different hazard modes, so as to reduce the static electricity in the application of integrated circuit devices.
分 类 号:TN409[电子电信—微电子学与固体电子学]
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