基于PXA255A0E400的测试系统设计与实现  

作　　者：张国强 蔡刚 

机构地区：[1]西安明德理工学院,陕西省西安市710065 [2]西安西谷微电子有限责任公司,陕西省西安市710124

出　　处：《电子技术与软件工程》2021年第24期55-57,共3页ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING

摘　　要：本文主要介绍了一款基于PXA255A0E400处理器的最小测试系统的设计与实现,然后基于自动化测试设备(ATE:J750-HD)对PXA255A0E400芯片进行测试。通过芯片的JTAG仿真口下载功能代码以及ATE设备在线测试代码编写,一次性从检验器件ID到完成对芯片的直流参数、交流参数、逻辑功能的测试,以及片外存储器的写入与擦除。通过该项目建立的一套完整的测试流程,形成了一个稳定的测试系统平台,并实现了产品的工程测试量产,通过验证测试结果基本达到了预期目标。外部存储器存储代码使得测试人员无需对PXA255A0E400芯片进行写入与擦除,大大的缩短了芯片的测试时间,节约了公司的人工成本。

关 键 词：PXA255A0E400 J750-HD XSCALE 存储器 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]