基于ATE提高带载条件下输出电压测试精度的分析  

Analysis of Improving Test Accuracy of Output Voltage under Load Based on ATE

作　　者：刘开 刘思嘉 于望 熊耀斌 赵彦飞[1] 温景超 石帅 LIU Kai;LIU Sijia;YU Wang;XIONG Yaobin;ZHAO Yanfei;WEN Jingchao;SHI Shuai(Material Center of China Academy of Launch Vehicle Technology,Beijing 100076,China)

机构地区：[1]中国运载火箭技术研究院物资中心,北京100076

出　　处：《集成电路应用》2022年第1期134-135,共2页Application of IC

摘　　要：阐述在使用自动测试系统(ATE)对部分数字电路进行输出带载能力测试时,因外部阻抗变化引起输出测量结果存在偏差的问题,介绍了一种通过使用ATE内部资源降低测试偏差的解决方案。This paper expounds the problem of deviation in the output measurement results caused by the change of external impedance when using the automatic test system(ATE) to test the output load capacity of some digital circuits, and introduces a solution to reduce the test deviation by using the internal resources of ATE.

关 键 词：复验筛选 数字电路测试 ATE 输出电压 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]