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作 者:彭克武 钟英俊 江军[1] 付晓君[1] PENG Ke-wu;ZHONG Ying-jun;JIANG Jun;FU Xiao-jun(Sichuan Institute of Solid-State Circuits,China Electronics Technology Group Corp.,Chongqing 400060)
机构地区:[1]中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆400060
出 处:《环境技术》2022年第2期84-87,共4页Environmental Technology
摘 要:本文介绍了一种双极型模拟集成电路在空间单粒子环境下的闩锁效应,打破了双极型器件单粒子闩锁免疫的传统概念,该研究主要针对双极型模拟集成电路多个器件共用一个隔离岛,形成寄生PNP,与隔离岛内NPN管形成了P-N-P-N可控硅(SCR)结构,在特定的条件下,单粒子辐照试验过程中触发闩锁现象,文章最后针对这种情况提出了相应的改进措施,避免类似情况发生。This paper introduces the latch up effect of a bipolar analog integrated circuit in space single event environment,which breaks the traditional concept of single event latch up immunity of bipolar devices.This study ismainly aimed at a parasitic PNP between the devices in the same isolated island,The parasitic PNP and the NPN in the same isolated island formed the P-N-P-N structure.Under the premise of a definite condition,single event triggered latchup.Finally,the paper puts forward corresponding improvement measures for this situation,and passes the experimental verification to avoid similar situations.
关 键 词:双极器件 共用隔离岛 寄生PNP P-N-P-N结构 单粒子闩锁
分 类 号:TN431[电子电信—微电子学与固体电子学]
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