电子元器件的老化测试及最新设备研究  

作　　者：李斌 彭勇[1] 

机构地区：[1]东莞职业技术学院电子信息学院,广东东莞523808

出　　处：《科技资讯》2022年第13期19-21,共3页Science & Technology Information

基　　金：广东省教育厅2021年度工程技术研究中心项目(项目编号:2021GCZX016);东莞职业技术学院国家双高计划电子信息工程技术专业群专项经费资助项目《电子产品智能化老化测试设备关键技术研究》(项目编号:ZXF012)成果。

摘　　要：随着现代化电子科学技术的迅猛发展,电子产品细致化程度不断升高,结构逐渐细化、工序逐渐增加、制造工艺逐渐复杂,由此在生产制造环节埋下了一系列隐患。一个良好的电子产品,不仅需要在性能层面具备较高的指标,同时还需要拥有较好的稳定性能,当前国内外普遍应用高温老化工艺,提高电子元器件的可靠性以及稳定性。该文主要针对电子元器件展开的老化测试工作进行论述,然后基于此,对新型设备展开研究,以供参考。

关 键 词：电子元器件 老化测试 最新设备 研究 

分 类 号：TN606[电子电信—电路与系统]