基于SVM的精密轴系成功子样数据包络分析  

作　　者：赵雁[1] 黄玥莹 王雅梦[1] 徐俊[1] 柴灵芝[1] 潘钢锋[1] 

机构地区：[1]洛阳轴承研究所有限公司,河南洛阳471039

出　　处：《智能制造》2022年第3期77-80,共4页Intelligent Manufacturing

摘　　要：成功子样数据包络分析基于数据理论分析和统计过程控制理论,通过分析有限子样的数据表征,对产品能否满足任务要求进行判断。本文针对精密轴系小样本、多特性、潜在信息难以挖掘的问题,提出了一种基于支持向量机(Support Vector Machine,SVM)的精密轴系成功子样数据包络分析方法,利用先前成功子样信息,将新研样本与成功子样的核距离进行对比,判断新研样本数据是否在成功子样包络范围内,对新研产品潜在问题进行挖掘,进一步提高整机服役寿命和运转可靠性,并通过试验验证了该方法的有效性。

关 键 词：精密轴系 支持向量机 小样本 多特性 数据包络分析 

分 类 号：TH133.2[机械工程—机械制造及自动化]