通过HAST快速模拟PCB基板老化插损波动性能  

作　　者：雷恒鑫 任英杰 韩梦娜 何双 魏俊麒 倪春军 

机构地区：[1]浙江华正新材料股份有限公司

出　　处：《覆铜板资讯》2022年第5期43-49,共7页Copper Clad Laminate Information

摘　　要：老化插损波动是评估PCB基板老化后传输线上信号完整性的重要指标。本文对不同吸水率的CCL、PCB基板进行了长时间烘烤、HAST加速老化、高温高湿、帯温老化等不同条件的处理,并对其Dk、Df、插入损耗变化进行了分析研究。

关 键 词：HAST加速老化 湿热加速老化 热氧老化 插入损耗 介质损耗 

分 类 号：TN4[电子电信—微电子学与固体电子学]