检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:晁瑞辰 Chao Ruichen(Zhejiang Institute of Tongji University,Jiaxing Zhejiang 314051)
出 处:《现代工业经济和信息化》2023年第4期248-250,共3页Modern Industrial Economy and Informationization
摘 要:在电子科技飞速发展的今天,人们已经不止局限于电子产品新功能的开发,而更注重于产品的质量、安全性以及其外形。在芯片的生产过程中,其工艺不断进步、提高,然而这却同时带来一个弊端,即芯片对于ESD防护能力的下降,因此针对这一情况,对集成电路ESD防护技术的开展进一步研究。In the rapid development of electronic technology today,people have not only limited to the development of new functions of electronic products,but also pay more attention to the quality,safety and appearance of the products.In the process of chip production,the process is constantly progressing and improving,but this brings a disadvantage that the chip's ESD protection ability decreases,so in response to this situation,the technology of integrated circuit ESD protection should be further studied.
分 类 号:TN405[电子电信—微电子学与固体电子学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:3.133.83.123