浅析高数值孔径对STED超分辨显微成像的影响  

作　　者：时金蒙 张会芳 郝振莉[1] 

机构地区：[1]黄河水利职业技术学院,河南开封475004

出　　处：《中国新技术新产品》2023年第6期25-28,共4页New Technology & New Products of China

摘　　要：数值孔径是显微成像和光纤应用领域的重要概念,孔径的大小对传统光学显微镜成像效果具有重要作用。在其他技术参数一定的情况下,数值孔径越大,显微镜成像分辨率越高。因为受到光的衍射作用的限制,所以传统光学显微镜的分辨率不可能无限制增大,最多只能分辨到200 nm。为了突破这一限制,STED超分辨率显微镜被研制并广泛应用,将分辨能力提高到50 nm。数值孔径对STED超分辨率显微镜的影响不能简单套用传统显微镜的相关研究成果,必须从STED超分辨率显微镜本身的性质出发,有针对性地进行分析。该文以高数值孔径对STED超分辨率显微成像的影响为主题,从简要论述STED超分辨率显微镜概况入手,从有利影响和不利影响2个层面进行深入分析,并将该领域的研究从定性分析拓展到定量研究领域,理论上可以达到纳米级甚至更小的程度。

关 键 词：高数值孔径 分辨率 STED显微镜 焦深 景深 

分 类 号：O436[机械工程—光学工程]