光学定位计量达到原子级分辨率  

出　　处：《电子质量》2023年第6期5-5,共1页Electronics Quality

摘　　要：据报道,英国和新加坡科学家携手推出一种非侵入性光学测量方法,检测纳米物体位置时达到原子级分辨率,比传统显微镜高出数千倍。最新研究使科学家能以1×109m的比例表征系统或现象,开辟了皮光子学研究新领域,也为其他领域研究提供了令人兴奋的新可能性。相关研究论文刊发于最新一期《自然·材料学》杂志上。

关 键 词：物体位置 原子级 光学测量方法 表征系统 光子学 光学定位 非侵入性 显微镜 

分 类 号：O43[机械工程—光学工程]