EEPROM存储数据耗时问题探究分析  被引量:1

Explore the Analysis of the Time Consuming Problem of EEPROM Data Storage

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作  者:石永慧 Shi Yonghui(Shanxi Polytechnic College,Taiyuan Shanxi 300006,China)

机构地区:[1]山西职业技术学院,山西太原030006

出  处:《山西电子技术》2023年第4期93-96,共4页Shanxi Electronic Technology

基  金:第二批国家级职业教育教师教学创新团队课题研究项目(ZI2021120303)。

摘  要:某嵌入式压力处理传感器软件在EEPROM存储器存储故障字过程中耗时太久,不符合所要求的30%时间余量。因此,不能在规定的时间内进行故障字存储操作。即故障字存储耗时过久导致时间余量达不到要求。针对这一问题,通过对存储芯片本身特性的分析,结合存储器本身特性,设计了一种加快存储器存储方法,提高存取时间,满足余量的要求。实验结果证明,该方法的准确率和效率,均达到了预期目标。An embedded pressure processing sensor software takes too long to store fault words in EEPROM memory and fails to meet the required 30%time allowance.Therefore,the fault word cannot be stored within the specified time.That is,the storage time of the faulty word is too long.As a result,the time allowance fails to meet the requirement.Aiming at this problem,this paper analyzes the characteristics of memory chip itself,combined with the characteristics of the memory itself,a method of speeding up the memory storage is designed to improve the access time and meet the requirements of the surplus.

关 键 词:EEPROM 故障字 耗时 

分 类 号:TP333[自动化与计算机技术—计算机系统结构]

 

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