集成电路的闩锁测试  

Integrate Circuit Latch-Up Test

作　　者：赵俊萍 孙健 ZHAo Jun-ping;SUN Jian(Beijing Institute of Microelectronics Technology,Beijing 100076)

机构地区：[1]北京微电子技术研究所,北京100076

出　　处：《环境技术》2023年第7期127-131,共5页Environmental Technology

摘　　要：基于闩锁测试标准中提供的方法和流程,本文针对复杂集成电路中包含的特殊性质的管脚,对实际闩锁测试过程中特殊性质引脚的处理方法及注意事项进行了详细的阐述,为测试人员正确理解并执行集成电路闩锁测试标准提供了依据,也为准确评估集成电路的抗闩锁能力奠定了基础。Based on the test standard and test procedure of latch-up,aiming at the special pin in complex integrate circuit,this paper states the treatment methods and important considerations of special pins in actual test.It provides a basis for understanding and performance of Ic latch-up test,also lays a foundation for evaluating latch-up protection capability of IC.

关 键 词：闩锁 测试标准 特殊管脚 

分 类 号：TN443[电子电信—微电子学与固体电子学]