基于单片机的SRAM测试系统设计  

作　　者：吴海平 杜凯 黄菊莲 何海莹 李燕 

机构地区：[1]西安西谷微电子有限责任公司,陕西西安710124

出　　处：《电子制作》2023年第16期73-75,共3页Practical Electronics

摘　　要：我国电子行业发展速度快、水平高,对于芯片的需求量日益增大,因此对自主研发的元器件功能、性能、质量可靠性和环境适应性提出了更高的要求。以静态随机存储器SRAMHRSR88512J为研究对象,通过MarchC+算法对其在应用环境下的功能、性能、质量可靠性进行测试,研究了在特定环境下元器件的性能参数,研究结果表明,对其进行了全覆盖功能测试、全时序参数测试、电参数测试进行了全覆盖,测试结果符合应用要求。这些研究结果对静态随机存储器在多种应用环境下的应用具有重要意义。

关 键 词：功能测试 电参数测试 静态随机存储器 可靠性 

分 类 号：TP333[自动化与计算机技术—计算机系统结构] TP368.1[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]