基于LK8820平台的DAC0832芯片电参数环境适应性测试方法分析  

Analysis of Environmental Adaptability Testing Method for Electrical Parameters of DAC0832 Chip Based on LK8820 Platform

作　　者：乔倩 QIAO Qian(Shanxi Engineering Vocational College,Shanxi 030001,China)

机构地区：[1]山西工程职业学院,山西030001

出　　处：《集成电路应用》2023年第7期46-47,共2页Application of IC

基　　金：2022年度山西省高等学校科技创新项目(2022L710)。

摘　　要：阐述DAC0832芯片在LK8820测试平台的测试方法,采用测试电路和专用函数完成对该芯片的电参数环境适应性的测试,从而为提高芯片测试效率提供技术支持。This paper describes the testing method of DAC0832 chip on the LK8820 testing platform, using testing circuits and specialized functions to test the adaptability of the chip's electrical parameters to the environment, thereby providing technical support for improving chip testing efficiency.

关 键 词：集成电路测试 LK8820测试平台 环境适应性 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]