检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:刘长江[1] 刘银生 高晓强 LIU Changjiang;LIU Yinsheng;GAO Xiaoqiang(The 29th Research Institute of CETC,Chengdu 610036,China;The 13th Research Institute of CETC,Shijiazhuang 050051,China)
机构地区:[1]中国电子科技集团公司第二十九研究所,成都610036 [2]中国电子科技集团公司第十三研究所,石家庄050051
出 处:《电子工艺技术》2024年第1期10-13,共4页Electronics Process Technology
摘 要:微波单片集成电路(MMIC)具有噪声性能好、集成度高、驱动能力强的优点。在MMIC工艺下,对压控振荡器(VCO)在高温下的特性表现进行了分析。现有使用负阻振荡原理设计的VCO电路分为负阻电路部分和谐振电路部分,该结构在高温下常产生近端噪声恶化和频率下降的现象,影响VCO的正常工作性能。通过对现有MMICVCO产品的仿真测试和分析,探得了高温下VCO性能改变的原因。The MMIC process has advantages of excellent noise performance,high integration and strong driving ability.The performance of voltage controlled oscillator(VCO)using MMIC process at high temperature is analyzed.The existing VCO circuit,that designed using the negative resistance principle,are divided into negative resistance circuit parts and resonant circuit parts.This structure often produces phenomenon such as near-end noise deterioration and frequency decrease at high temperature,which affect the normal working performance of VCO.Through simulation,testing,and analysis of existing MMIC VCO products,the reason for the changes in VCO performance at high temperature is identifi ed.
分 类 号:TN60[电子电信—电路与系统]
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