氧化锂减少正畸诱导牙根吸收风险的研究进展  

作　　者：马浩哲 樊永杰 杨乐 李瑞 杨彩丽 张佐[2] 

机构地区：[1]内蒙古医科大学第四附属医院正畸科,内蒙古包头014030 [2]宁夏回族自治区人民医院口腔科,宁夏银川750002 [3]宁夏医科大学口腔医学院,宁夏银川750004

出　　处：《宁夏医学杂志》2024年第5期453-456,共4页Ningxia Medical Journal

基　　金：宁夏重大科技成果转化项目(2023CJE09049)。

摘　　要：正畸诱导性牙根吸收(OIRR)是正畸牙齿移动(OTM)过程中并发症的一种,表现为牙骨质、牙本质等牙体组织的破坏,主要由正畸力诱导的无菌性炎症引起,其过程由多种细胞及相关分子进行复杂介入及调控。有研究报告称绝大多数的牙齿在正畸移动后会发生牙根吸收,其中严重牙根吸收的发生率为14.8%,这甚至成为正畸治疗失败的直接诱因[1-2]。

关 键 词：牙根吸收 牙齿移动 氯化锂 

分 类 号：R783.5[医药卫生—口腔医学]