机床数控系统辐射骚扰测试及整改措施  

作　　者：崔超 张雄飞 邢国春 王香芹 高学 蔡明辉 翟红晟 

机构地区：[1]国家机床质量监督检验中心,北京101312 [2]通用技术集团机床工程研究院有限公司上海分公司,上海200436

出　　处：《今日制造与升级》2024年第6期140-142,共3页Manufacture & Upgrading Today

摘　　要：数控机床的快速发展和广泛使用,稳定性、可靠性是运行的关键。在工业现场,电磁兼容问题的出现会造成数控系统以及其他设备的非正常运行、甚至停机。文章以辐射骚扰为例,在符合性试验过程中,以某型号的数控系统为代表,分析辐射骚扰不合格的原因并进行整改。整改后,再次进行试验,证明了整改措施的有效性,为后续试验结果不合格原因的判断提供部分的理论依据。

关 键 词：数控系统 辐射骚扰测试 MOSFET 

分 类 号：TG659[金属学及工艺—金属切削加工及机床]