检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:蒲永卓 PU Yongzhuo(Gansu Mechanical&Electrical Vocational College,Tianshui Gansu 741001)
出 处:《中国科技纵横》2024年第9期126-128,共3页China Science & Technology Overview
基 金:2021年甘肃省高等学校创新项目“基于小波变换对集成电路生产过程中质量缺陷的检测”(2021A-295)。
摘 要:本文主要介绍了在集成封装电路生产过程中质量缺陷检测时,利用小波变换技术对采集到的图像进行处理,通过图像的分解、压缩、增强等技术得到质量较好的图像,为后续利用图像方法检测产品质量提供保障为相关企业提高集成电路封装产品生产质量和生产效率,提供有效的技术支持。This paper mainly introduces the quality defect detection in the production process of integrated circuit,the use of wavelet transform technology to process the collected images,through image decomposition,compression,enhancement and other technologies to obtain better quality images,to provide guarantee for the subsequent use of image methods to detect product quality,improve the production quality of integrated circuit packaging enterprises.Provide effective technical support for related enterprises.
分 类 号:TP29[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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