基于补偿法下单片机温/光控系统设计的光敏二极管导电特性的探究  

作　　者：齐裕佳 叶修卿 陈雯颖 雷禄均 

机构地区：[1]南京邮电大学通达学院,江苏省扬州市225127

出　　处：《家电维修》2024年第9期95-97,共3页Appliance Repairing

摘　　要：本文介绍一种常用的实验方法——补偿法,用于测量半导体二极管的伏安特性,该方法可以准确得到电流电压特性曲线,并确定半导体二极管的参数。文章首先阐述实验目的和意义,在实验原理部分详细介绍补偿法的原理和流程,在实验装置与操作部分则介绍所需器材和具体操作步骤,在实验结果与分析部分详细介绍相关数据和曲线图,并分析半导体二极管的性质和参数,最后在结论与实验建议部分总结实验结果,并提出相应的改进建议。该实验方法对半导体器件的研究和应用具有重要意义。

关 键 词：单片机温/光控系统 光敏二极管 导电特性 

分 类 号：G63[文化科学—教育学]