浅谈AI智能技术在晶圆测试生产中的应用  

作　　者：蔡晓峰 余凯 邓敏 姜惠国 

机构地区：[1]宏茂微电子(上海)有限公司

出　　处：《中国集成电路》2024年第8期76-80,共5页China lntegrated Circuit

摘　　要：AI智能技术作为当下科技领域的热点,其在晶圆测试生产中的应用逐渐显现出其巨大的潜力和价值。本文主要探讨了AI智能技术的定义,核心特点及其在晶圆测试生产过程中的实际应用。文章指出,AI智能技术在晶圆测试生产中发挥着越来越重要的作用,通过自动缺陷检测,测试数据分析和智能分类与分拣能力,为晶圆测试生产带来了革命性的变革。文章还探讨了AI智能技术在针痕检测方面的创新应用,不仅提高了生产效率和产品品质,还为企业赢得更多的市场竞争优势。最后文章展望了AI智能技术在晶圆测试生产中的未来发展情景,以便更好地认识AI智能技术在晶圆测试生产领域的重要性和影响。

关 键 词：晶圆测试 AI智能技术 

分 类 号：TN307[电子电信—物理电子学] TP18[自动化与计算机技术—控制理论与控制工程]