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检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:李泱 郭焕焕 贾博涛 吴立强[1] 于东翔 LI Yang;GUO Huanhuan;JIA Botao;WU Liqiang;YU Dongxiang(China Academy of Launch Vehicle Technology,Beijing 100076,China)
出 处:《电子技术(上海)》2024年第6期127-129,共3页Electronic Technology
摘 要:阐述为解决因器件较多不能及时完成密封试验而使后续试验无法开展的情况,提出将密封试验加压设备由人工操作改为可编程逻辑器件控制操作的方法,可以有效缩短密封试验加压准备时间,减少人为因素的干扰,提高密封试验效率。This paper expounds the method of changing the sealing test pressurization equipment from manual operation to programmable logic device control operation in order to solve the situation where subsequent tests cannot be carried out due to the inability to complete sealing tests in a timely manner due to a large number of devices.This can effectively shorten the preparation time for sealing test pressurization,reduce the interference of human factors,and improve the efficiency of sealing tests.
分 类 号:TN607[电子电信—电路与系统]
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