吴立强

作品数:6被引量:6H指数:1
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供职机构:中国运载火箭技术研究院更多>>
发文主题:元器件封装器件多层瓷介电容器温度曲线电容量更多>>
发文领域:电子电信航空宇航科学技术更多>>
发文期刊:《半导体光电》《电子元件与材料》《导弹与航天运载技术(中英文)》《电子设计工程》更多>>
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密封试验加压设备改进措施分析
《电子技术(上海)》2024年第6期127-129,共3页李泱 郭焕焕 贾博涛 吴立强 于东翔 
阐述为解决因器件较多不能及时完成密封试验而使后续试验无法开展的情况,提出将密封试验加压设备由人工操作改为可编程逻辑器件控制操作的方法,可以有效缩短密封试验加压准备时间,减少人为因素的干扰,提高密封试验效率。
关键词:密封试验 加压设备 缩短试验时间 
塑封器件除湿方案设计与验证
《导弹与航天运载技术(中英文)》2023年第2期114-117,共4页吴立强 王宇 李泱 支钰崧 胡涵 
声学扫描试验能够有效剔除塑封器件的分层、裂纹、空洞等内部缺陷,提高型号应用的可靠性。声学扫描试验过程中需要使用水作为超声波传播介质,被试塑封器件需要完全浸入到水中,由于塑封器件封装体是非密封的和易吸湿的,所以无法避免湿气...
关键词:声学扫描 塑封器件 除湿 称重 
基于WIN7的图像采集和质量分析系统设计被引量:1
《电子设计工程》2022年第12期79-82,87,共5页吴立强 温景超 支钰崧 王宇 杨明 
为提高图像采集质量的一致性,降低图像比对分析的难度,提升图像比对分析识别电子元器件真伪的试验效率,研究并设计了一套基于WIN7系统的图像采集和质量分析系统。该系统由acA2500-14gc相机、MLH-10X镜头、LED光源、电机、可编程逻辑控...
关键词:元器件 图像采集 真伪识别 质量分析 系统 
基于光学干涉法的翻新电子元器件鉴别方法被引量:4
《半导体光电》2020年第6期822-826,共5页温景超 吴立强 赵彦飞 于望 
翻新电子元器件存在重大质量隐患,对航天装备的质量和安全构成了严重威胁。为了确保装机电子元器件的质量和可靠性,结合翻新元器件的特点,提出了一种鉴别翻新元器件的无损检测方法。首先,阐述了翻新元器件的检测方法和原理,即通过光学...
关键词:翻新元器件 鉴别方法 表面粗糙度 光学干涉法 无损检测 
基于三维模型的InGaP/GaAs HBT单粒子效应仿真
《电子元件与材料》2020年第4期90-94,共5页温景超 李旭红 吴立强 王宇 何忠名 
为全面评估航天型号用元器件的抗辐射性能,对InGaP/GaAs异质结双极晶体管(Heterojunction Bipolar Transistor,HBT)的单粒子效应进行了仿真研究。首先,介绍了空间辐射环境中重离子诱发器件产生单粒子瞬态脉冲的机理。然后,建立了InGaP/G...
关键词:InGaP/GaAs异质结双极晶体管 三维模型 单粒子效应 重离子 瞬态脉冲电流 
塑封光电耦合器开封方法研究被引量:1
《电子技术(上海)》2020年第1期24-25,共2页吴立强 温景超 王宇 任建波 尹航 
中国运载火箭技术研究院技术创新课题项目
基于常规开封方法分析,对比塑封光电耦合器与其他塑封器件不同的结构,验证不同开封方法对塑封光电耦合器的适用性,以X射线检查和激光切割等作为手段,实现对塑封光电耦合器的无损开封。
关键词:集成电路 塑料封装 光电耦合器 无损开封 
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