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作 者:王振 郭思明[1] 黄仕葵 李知微 周幸 舒子瑶 樊丽鹏 王忠桃[2] WANG Zhen;GUO Siming;HUANG Shikui;LI Zhiwei;ZHOU Xing;SHU Ziyao;FAN Lipeng;WANG Zhongtao(National Institute of Metrology,Beijing 100029,China;Chengdu University of Technology,Chengdu 610059,China)
机构地区:[1]中国计量科学研究院,北京100029 [2]成都理工大学,成都610059
出 处:《计量科学与技术》2024年第10期66-72,共7页Metrology Science and Technology
基 金:中国计量科学研究院基本科研业务费(AKYZZ2115)。
摘 要:基于K荧光X射线开展了LiF220晶体在23.3 keV和31keV能量下的衍射效率实验,调整入射单能X射线的布拉格角,测量衍射得到的单能X射线,实验结果显示晶体在两种能量下能够得到较为完整的衍射峰。在能量为23.3keV与31keV的射线照射下,分别在入射角度为10.8°和8.1°时,得到衍射效率的极大值,约为2.46%和1.33%,与理论值相符。为材料科学和其他相关领域的研究提供实验数据支持和参考,衍射效率的测量可以用于验证实验结果的准确性,提供了一个检验实验条件和数据解释的工具,确保研究的可重复性和可靠性。Using K fluorescence X-rays,we conducted diffraction efficiency experiments on LiF220 crystals at energies of 23.3 keV and 31 keV.By adjusting the Bragg angle of the incident monochromatic X-rays,we measured the diffracted monochromatic X-rays.The experimental results showed that the crystals produced relatively complete diffraction peaks at both energies.Under irradiation at energies of 23.3 keV and 31 keV,maximum diffraction efficiencies of approximately 2.46%and 1.33%were obtained at incident angles of 10.8°and 8.1°,respectively,which are consistent with theoretical values.This study provides experimental data support and reference for research in materials science and other related fields.Measurements of diffraction efficiency can be used to verify the accuracy of experimental results,providing a tool to test experimental conditions and data interpretation,ensuring the reproducibility and reliability of the study.
关 键 词:计量学 K荧光 衍射效率 LiF220 LaBr_(3)(Ce)探测器
分 类 号:TB98[一般工业技术—计量学]
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