解锁数据中心测试的新方法  

作　　者：Gobinath Tamil Vanan 

机构地区：[1]是德科技

出　　处：《软件和集成电路》2024年第11期2-6,共5页Software and Integrated Circuit

摘　　要：目前,对数据中心的光器件执行直流偏置测试面临多重挑战,包括密度、精度、动态条件、非线性特性、灵敏度、高速数据传输需求和对真实场景的仿真等。应对这些挑战需要采用创新的方法和专业的设备,而源表模块(SMU)将发挥关键作用。为了满足大众日益增长的对高速数据传输的需求,数据中心行业正经历着快速的变革,而在此进程中,光器件的重要性越发凸显。

关 键 词：数据中心 真实场景 高速数据传输 光器件 非线性特性 直流偏置 动态条件 灵敏度 

分 类 号：TP308[自动化与计算机技术—计算机系统结构]