基于FPGA的DDR控制器自动化测试平台研究  

作　　者：杨树桦 马云辰 刘国斌 陈云 刘陶然 

机构地区：[1]上海航天电子技术研究所 [2]上海机电工程研究所

出　　处：《互联网周刊》2025年第6期38-40,共3页China Internet Week

摘　　要：基于现场可编程门阵列(FP GA)的双倍数据速率(DDR)控制器自动化测试平台,可有效提升DDR控制器的测试效率和质量,为工业互联网应用奠定坚实基础。该平台采用设备层、平台层、应用层的三层架构设计,设备层负责DDR控制器的底层测试与数据采集,平台层实现云边协同的数据处理与智能分析,应用层提供可视化的人机交互界面。测试结果表明,该平台能够准确评估DDR控制器在高速数据传输场景下的时序性能和可靠性指标。

关 键 词：FPGA DDR控制器 自动化测试 工业互联网 

分 类 号：TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]