以最高成品率为目标的MMIC CAD  

Yield Driven CAD of MMIC

作　　者：潘晓明[1] 向家苓 

机构地区：[1]南京电子器件研究所,南京210016

出　　处：《电子学报》1992年第12期64-67,共4页Acta Electronica Sinica

基　　金：国家自然科学基金

摘　　要：本文提出了以最高成品率为目标的砷化镓微波单片集成电路(MMIC)CAD优化设计方法。讨论了提高MMIC成品率的途径,给出了详细的程序框图。用开发的软件NAMP,对一个MMIC单级放大器进行了设计,预计的成品率由原来的17.78％提高到53.55％。A yield driven CAD of GaAs MMIC is presented. The way of improving production yield is discussed and the detailed program flowcharts are given. With the developed NAMP software package the predictive yield of a designed single stage amplifier may be improved from 17.78% to 53.55%.

关 键 词：砷化镓 成品率 微波集成电路 CAD 

分 类 号：TN454[电子电信—微电子学与固体电子学]