检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:沈理[1]
出 处:《同济大学学报(自然科学版)》2002年第10期1194-1198,共5页Journal of Tongji University:Natural Science
基 金:国家"8 6 3"高技术研究发展计划资助项目 ( 2 0 0 1AA11110 0 )
摘 要:VLSI集成电路芯片测试技术正在向高层次测试推进 .针对Verilog硬件描述语言 ,提出了一种在寄存器传输级 (registertransferlevel,RTL)上的电路模型VRM .该模型着重于实际应用 ,可输出文本格式文件 ,便于开发实用的RTL级故障模拟和RTL级测试生成等软件 .基于该模型 ,还实现了一个简单的RTL逻辑模拟程序以验证VRM模型的可行性 .The VLSI testing is being pushed to the high-level based technology.The paper presents a Verilog RTL model(VRM) for integrated circuits.It provides a text format file that may be useful for developing RTL fault simulation and test pattern generation tools in practice.Based on the VRM,a simple RTL logic simulator was implemented for verification of the model.
关 键 词:VerilogRTL模型 VERILOG硬件描述语言 寄存器传输级模型 逻辑模拟 高层次测试 集成电路芯片 芯片测试
分 类 号:TN492.07[电子电信—微电子学与固体电子学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.120