0.18μm以下低k介质材料上的低离子等离子体去胶工艺  

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作  者:AxcelisTechnologies QingyuanHan CarloWaldfried OrlandoExcorcia 

出  处:《中国集成电路》2003年第46期81-85,共5页China lntegrated Circuit

摘  要:本文论述了下游式等离子体在多种Cu/低k材料上去胶及去残留物的工艺应用,主要有3类低k材料的实验数据——有机类、掺氮氧化物和多孔性低k材料,同时论述了在这些对应低k材料上新的等离子体气氛:(1)中性等离子体;(2)无氧和还原性等离子体;(3)无氧和无氮等离子体。

关 键 词:下游式等离子体 低K介质材料 去胶工艺 掺氮氧化物 多孔性低k材料 等离子体气氛 

分 类 号:TN405[电子电信—微电子学与固体电子学]

 

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