用低噪声4200-SCS半导体特性分析系统进行超低电流测试  

To Take Low noise 4200-SCS Semiconductor Anylizing System to Test Ultralow Circuit

作　　者：Keithley Inc 

机构地区：[1]吉时利公司

出　　处：《电子质量》2003年第2期7-9,共3页Electronics Quality

摘　　要：文章介绍用4200-SCS进行低电流测试的几个重要的影响因数,包括接地,屏蔽,测试中的噪声和系统稳定时间。The articles says some key factors to test ultralow circuit, including grounding shielded noiseand system's time period.

关 键 词：4200-SCS 超低电流测试 接地 屏蔽 噪声 半导体特性分析系统 

分 类 号：TN306[电子电信—物理电子学]