不同压力下正压漏孔漏率研究  

STUDY ON LEAKAGE OF PRESSURE LEAK WITH DIFFERENT PRESSURES

作　　者：张建军[1] 张涤新[1] 赵澜[1] 冯焱[1] 

机构地区：[1]兰州物理研究所,甘肃兰州730000

出　　处：《真空与低温》2003年第1期39-42,49,共5页Vacuum and Cryogenics

摘　　要：在不同出口和入口压力下校准了1只正压漏孔,给出了校准结果并进行了讨论,按照黏滞流-分子流理论拟合校准曲线,给出了不同压力下计算漏率的公式。A pressure leak was calibrated with different inlet pressures and outlet pressures. The results are given and discussed. The equations to calculate leakages of different pressures are presented in accordance with the theory of viscous\|molecular flow.\;

关 键 词：正压漏孔 黏滞流-分子流 漏孔校准 

分 类 号：TB774[一般工业技术—真空技术] TN107[电子电信—物理电子学]