张建军

作品数：9被引量：56H指数：4
导出分析报告
供职机构：中国科学院兰州物理研究所更多>>
发文主题：校准装置正压漏孔正压漏孔校准装置灵敏度离子源更多>>
发文领域：一般工业技术机械工程电子电信航空宇航科学技术更多>>
发文期刊：《真空与低温》《宇航计测技术》更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
共 条 记 录，以下是1-9
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
四极质谱计灵敏度与离子源参数关系的实验研究被引量：11
《真空科学与技术》2003年第3期203-207,共5页冯焱 李得天 张涤新 张建军 
本文通过改变QMS4 2 2型四极质谱计离子源的发射电流、阴极电压和聚焦电压等参数值 ,测量了质谱计灵敏度的相应变化 ,给出并分析了实验结果。实验结果表明 ,对质谱计离子源参数进行调节 。
关键词：四极质谱计 离子源 灵敏度 
不同压力下正压漏孔漏率研究被引量：7
《真空与低温》2003年第1期39-42,49,共5页张建军 张涤新 赵澜 冯焱 
在不同出口和入口压力下校准了1只正压漏孔,给出了校准结果并进行了讨论,按照黏滞流-分子流理论拟合校准曲线,给出了不同压力下计算漏率的公式。
关键词：正压漏孔 黏滞流-分子流 漏孔校准 
分压力质谱计校准装置的不确定度分析被引量：1
《航空计测技术》2002年第6期35-40,共6页冯焱 李得天 张涤新 张建军 
介绍了分压力质谱计校准装置的结构、工作原理及分压力测量方法 。
关键词：分压力 质谱计 校准装置 不确定度 
温度对薄膜渗氦型漏孔漏率的影响研究被引量：4
《真空与低温》2001年第4期200-203,共4页冯焱 张建军 张涤新 
介绍了气体微流量标准装置对漏率的校准方法。在温度 16～ 5 0℃范围内 ,对两支薄膜渗氦型漏孔进行了校准 ,并给出了温度与漏率的关系表达式。得出了研究结论。
关键词：漏率 校准 薄膜渗氦型漏孔 温度 真空检漏 校准装置 
分压强质谱计校准装置的研制被引量：25
《真空科学与技术》2001年第3期237-241,共5页李得天 李正海 冯焱 张涤新 张建军 许珩 龚月莉 李莉 
分压强质谱计校准装置用于质谱计的校准。本文介绍了分压强质谱计校准装置的结构、工作原理及分压强测量方法 ,并给出了分压强测量的不确定度分析。
关键词：分压强 测量 质谱计 校准 校准装置 
正压漏孔校准装置的设计被引量：3
《中国空间科学技术》2001年第1期57-65,共9页张涤新 张建军 许珩 冯炎 龚月莉 
正压漏孔校准装置是一种校准气体漏率的计量标准设备 ,可采用定容法和定量气体动态比较法对正压漏孔校准 ,校准范围为 10 2～ 5× 10 - 5 Pa· L /s。该文介绍正压漏孔校准装置的校准原理 ,设计方法 ,参数选取。
关键词：气体 泄漏 设计 正压漏孔校准装置 航天产品 正压检漏 
正压漏孔校准装置被引量：21
《真空科学与技术》2001年第1期55-59,共5页张涤新 李得天 张建军 许珩 冯焱 龚月莉 
正压漏孔校准装置是校准气体漏率的计量标准 ,可采用定容法和定量气体动态比较法对正压漏孔进行校准 ,校准范围为 1× 10 2 ～ 5× 10 -5Pa·L/s。
关键词：真空计量学 漏率校准 正压漏孔 校准装置 质谱检漏仪 标定 正压检漏 
正压漏孔校准装置的不确定度评定被引量：1
《宇航计测技术》2000年第4期36-41,共6页张涤新 张建军 许珩 冯炎 龚月莉 
介绍了正压漏孔校准装置的不确定度评定。该装置是一种校准气体漏率的计量标准 ,可采用定容法和定量气体动态比较法对正压漏孔进行校准 ,校准范围为 (1 0 2 ～ 5× 1 0 -5 )Pa·L/s。
关键词：真空标准 正压漏孔 不确定度评定 定容法 真空漏孔 定量气体动态比较法 
压漏孔校准装置性能测试
《真空与低温》2000年第3期165-169,174,共6页张涤新 张建军 许珩 冯焱 龚月莉 
正压漏孔校准装置可采用定容法和定量气体动态比较法进行正压漏孔的校准。定容法的校准范围是１００～５ × １０^（－３） Ｐａ· Ｌ／ｓ，不确定度小于９．１０％；定量气体动态比较法的校准范围是１×１０^（－２）～５×１０^（－...
关键词：正压漏孔 校准装置 性能测试 正压质谱检漏仪 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部