基于关键面积的冗余集成电路成品率分析  

Analysis of Redundant Integrated Circuit Yield Based on Critical Area

作　　者：赵天绪[1] 段旭朝[2] 马佩军[1] 郝跃[1] 

机构地区：[1]西安电子科技大学微电子所,西安710071 [2]宝鸡文理学院计算与信息研究所,宝鸡721007

出　　处：《Journal of Semiconductors》2003年第5期544-549,共6页半导体学报（英文版）

基　　金：国家科技攻关和陕西省教育厅科研计划 ( No.0 2 JK194)资助项目~~

摘　　要：利用关键面积的思想分析了冗余电路的成品率 ,并给出了其计算模型 .实例模拟表明 ,与传统的成品率分析方法相比 ,该模型预测 IC成品率具有更高的精度 .Yield of the redundant circuit is analyzed with IC critical area and the computational model of this redundant circuit is given.The simulation results of an example show that the precision is higher using the presented model to predict IC yield than using the traditional yield model.

关 键 词：关键面积 冗余集成电路 成品率 故障 缺陷 

分 类 号：TN431[电子电信—微电子学与固体电子学]