为快速推出先进的集成电路采用的设计检测和验证技术  

作　　者：Graham Siddall Itzik Goldberger 

出　　处：《集成电路应用》2003年第6期58-60,共3页Application of IC

摘　　要：为了把设计先进的器件及时地按计划推向市场,芯片的设计者和制造者面临着更复杂的器件要求和对价格极度敏感的市场的双重压力。本文将讨论一个集设计、调试和验证于一体的流程,能够为当今先进的设计所面临的技术和市场压力提供一些帮助。

关 键 词：集成电路 先进设计 检测 验证 光子探测 故障定位 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]