边界扫描测试电路的设计  

Design of Boundary-Scan Test Circuits

作　　者：王孜[1] 刘洪民[1] 吴德馨[1] 

机构地区：[1]中国科学院微电子中心,北京100029

出　　处：《微电子学》2003年第1期71-73,77,共4页Microelectronics

摘　　要：　讨论了边界扫描测试电路的设计方法和电路的基本结构,并针对光纤通信系统中的32:1时分复用芯片设计了边界扫描电路,给出了模拟结果。The design techniques for boundaryscan test circuits are discussed in the paper The boundaryscan architecture at IC level is presented A boundaryscan test circuit for 32:1 MUX used in fiber communication system is designed, and the simulation result of the circuit is provided

关 键 词：边界扫描测试电路 设计方法 光纤通信 时分复用芯片 板级测试 IEEE标准1149.1 

分 类 号：TN929.11[电子电信—通信与信息系统]