电子散斑干涉仪的设计及应用  

Design and application of electronic speckle pattern interferometer

作　　者：俞蕾[1] 冀平[1] 宋建力[1] 胡正国[1] 宋菲君[1] 陆伯祥 Eggers H A 

机构地区：[1]中国科学院大恒公司光电子实验室 [2]联邦德国JURID公司光电子实验室

出　　处：《激光技术》1992年第1期37-41,共5页Laser Technology

摘　　要：本文介绍了具有动态范围大、可见条纹级别高等特点的新一代电子散斑干涉仪(ESPI)的设计原理、特点,并给出了实时相减法振动测量和变形测量的结果。A new type of electronic speckle pattern interferometer (ESPI) is described in this paper which has the characteristics of large dynamic range and high order of visible fringes.The experiment results of vibration and deformation test by use of real-time subtraction are given.

关 键 词：电子散斑 干涉仪 设计 

分 类 号：TH744.3[机械工程—光学工程]