VLSI芯片-数字信号测试  

机构地区：[1]安捷伦科技

出　　处：《半导体技术》2003年第8期22-23,共2页Semiconductor Technology

关 键 词：VLSI芯片 数字信号测试 超大规模集成电路 功能测试 DC参数 功耗测试 

分 类 号：TN47[电子电信—微电子学与固体电子学]