2002年IEEE国际可靠性物理年会论文集论文摘要（2）——GaAs MESFET中性能不稳定性（如栅滞后和纠结现象）  

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》2003年第4期61-61,共1页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

关 键 词：GAASMESFET 不稳定性 栅滞后 纠结 物理机理 

分 类 号：TN386[电子电信—物理电子学]