用干涉条纹重迭法测量晶体双折射率差  

BIREFRINGENCE MEASUREMENTS USING OVERLAPPING OF INTERFERENCE FRINGES

作　　者：金逢锡[1] 孙龙[1] 王成贵[1] 

机构地区：[1]延边大学,延吉133002

出　　处：《大学物理实验》2003年第3期23-26,共4页Physical Experiment of College

摘　　要：本文介绍用干涉条纹的重叠法测量晶体双折射的过程。此方法是在D.F.Heller先生的基础上,用干涉条纹取代光机的Talbot像,主要优点是条纹的对比度好。In this paper we describe how measure brifringence using overlapping of interference fringes. we replaced Talbot image of a grating by interference fringes, its advantage of the Moke fringes contrast is better.

关 键 词：莫尔条纹 Tallbot像 干涉条纹 晶体 双折射率差 重迭法 

分 类 号：O734.2[理学—晶体学] O436.1[机械工程—光学工程]