孙龙

作品数：14被引量：23H指数：3
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供职机构：延边大学理学院物理系更多>>
发文主题：粗糙度磁控溅射CNX薄膜附着力碳氮薄膜更多>>
发文领域：理学机械工程电子电信一般工业技术更多>>
发文期刊：《红外技术》《延边大学学报（自然科学版）》《发光学报》《大学物理实验》更多>>
所获基金：吉林省科技厅科研基金教育部跨世纪优秀人才培养计划国家自然科学基金更多>>
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压力对Zr_(41.2)Ti_(13.8)Cu_(12.5)Ni_(10)Be_(22.5)块体非晶合金晶化行为的影响
《实验室研究与探索》2005年第8期19-20,共2页孙龙 
介绍了用于压力测量的新型bridgman装置,并结合X射线衍射分析技术(XRD)研究了常压、高压条件下Zr41.2Ti13.8Cu12.5Ni10Be22.5块体非晶合金的晶化。结果表明,在相同的退火条件下(400℃,退火3小时),增大压力有利于Zr41.2Ti13.8Cu12.5Ni10B...
关键词：bridgman装置 Zr41.2Ti13.8Cu12.5Ni10Be22.5 块体非晶合金 晶化 压力 
基底温度对氮化硼薄膜场发射特性的影响被引量：2
《吉林大学学报（理学版）》2004年第2期251-254,共4页孙文斗 顾广瑞 孙龙 李全军 李哲奎 盖同祥 赵永年 
国家自然科学基金(批准号:59831040).
利用射频磁控溅射方法,真空室中充入高纯N2(99.99%)和高纯Ar(99.99%)的混合气体,在n型(100)Si基底上沉积了六角氮化硼(h-BN)薄膜.在超高真空(<10-7Pa)系统中测量了BN薄膜的场发射特性,发现沉积时基底温度对BN薄膜的场发射特性有很大影响...
关键词：场发射 基底温度 表面粗糙度 氮化硼薄膜 射频磁控溅射 隧道效应 
椭圆偏振光折反射时的状态变化被引量：1
《延边大学学报（自然科学版）》2003年第4期250-254,共5页金逢锡 孙龙 王成贵 
以非涅耳公式为基础,建立一套坐标系统,定量地分析和讨论了椭圆偏振光从空气到某介质表面发生折反射时,其相位、振幅和旋转方向的变化情况.
关键词：椭圆偏振光 非涅耳公式 折射 反射 四分之一波片 相位突变 
用光栅最小偏向角法测定光波波长被引量：3
《延边大学学报（自然科学版）》2003年第2期100-102,共3页金逢锡 孙龙 王成贵 
从光栅衍射方程出发,通过分析和推导,得出了符合最小偏向角条件时的计算公式,对实验得出的数据与公认值进行对比之后,得出此方法具有较高的精确度。
关键词：光学测量 光波波长测量 最小偏向角法 光栅常量 衍射方程 测定原理 
用干涉条纹重迭法测量晶体双折射率差
《大学物理实验》2003年第3期23-26,共4页金逢锡 孙龙 王成贵 
本文介绍用干涉条纹的重叠法测量晶体双折射的过程。此方法是在D.F.Heller先生的基础上,用干涉条纹取代光机的Talbot像,主要优点是条纹的对比度好。
关键词：莫尔条纹 Tallbot像 干涉条纹 晶体 双折射率差 重迭法 
磁控溅射CN_x薄膜的附着力、粗糙度与衬底偏压的关系被引量：8
《发光学报》2003年第3期305-308,共4页李俊杰 王欣 卞海蛟 郑伟涛 吕宪义 金曾孙 孙龙 
教育部和吉林省科学技术委员会基金资助项目
对磁控溅射生长在单晶Si(001)衬底上的CNx薄膜的附着力、粗糙度与衬底偏压的关系进行了研究。CNx薄膜沉积实验在纯N2的环境下进行,衬底温度(Ts)保持在350℃,衬底偏压(Vb)在0～-150V之间变化。利用原子力显微镜(AFM)和划痕试验机来测量CN...
关键词：磁控溅射 CNX薄膜 附着力 粗糙度 衬底偏压 碳氮薄膜 薄膜测量 
圆孔衍射中央图案的研究
《延边大学学报（自然科学版）》2003年第1期30-35,共6页金逢锡 王成贵 孙龙 
通过理论和实验两方面,对A.J.Fresnel和J.Fraunhofer圆孔衍射中心图案进行分析和讨论之后,得出圆孔衍射图样中央光斑不一定总是亮斑的结论.
关键词：A.J.Fresnel衍射 J.Fraunhofer衍射 中央斑 圆孔衍射 
两条互靠直导线间的磁场力测定
《大学物理实验》2003年第1期33-34,46,共3页金逢锡 王成贵 孙龙 
两条互靠直导线间距微小 ,不易测准 ,本文介绍了一种用衍射法测定两条互靠长直导线间距的方法 ,并由此求出它们之间的磁场力大小。
关键词：互靠直导线 测定 磁场力 单缝衍射 激光 电磁学 
用数学法解析激光全息术被引量：1
《延边大学学报（自然科学版）》2002年第4期261-264,共4页金逢锡 王成贵 孙龙 
对激光全息术进行数学分析和讨论之后,描述了激光全息术的记录和显示过程,为计算机制全息图、光学图象处理及光计算的发展提供了数学分析基础.
关键词：数学法 物光波 球面波 激光全息术 全息照相术 信息记录 信息显示 
用Faraday效应测量光学材料的色散率被引量：1
《延边大学学报（自然科学版）》2002年第3期165-167,共3页金逢锡 孙龙 王成贵 
介绍了利用Faraday磁致旋光性原理 ,测量光学材料色散率的方法 .此方法对Verdet常数大的光学材料来说 。
关键词：光学材料 Faraday效应 Verdet常数 Faraday磁致旋光性原理 测量原理 
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