检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]山东大学机械工程学院,济南250061 [2]山东大学电子束研究室,济南250061
出 处:《微细加工技术》2003年第3期1-4,8,共5页Microfabrication Technology
摘 要:以静电极板为电子束曝光机偏转负载,用双通道扫描原理进行扫描,并使用计算机辅助设计研究电子束曝光机聚焦偏转系统的结构。由SDS-3电子束曝光机试验结果表明,复合静电偏转可以达到磁偏转相似的像差水平。Using the electrostatic plates as the load of the Ebeam deflection system and the double channels scanning the structure of the Ebeam column is analyzed with CAD. The experimental results of SDS-3 Ebeam lithography machine show that the aberrations of the electrostatic deflection are in the same order of the magnetic deflection.
关 键 词:静电极板 电子束曝光机 静电偏转 聚焦偏转 像差
分 类 号:TN305.7[电子电信—物理电子学]
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