二项分布未知参数的序贯验后加权检验方法  

The Sequential Posterior Odd Test Method of the Unknown Parameter in the Binary Distribution

作　　者：申绪涧[1] 戚宗锋 汪连栋[1] 王国玉[1] 王雪松[1] 

机构地区：[1]国防科技大学电子科学与工程学院 [2]电子信息装备试验中心

出　　处：《无线电工程》2003年第10期27-30,共4页Radio Engineering

摘　　要：在Bayes理论的基础上,充分利用验前信息,并采用序贯验后加权检验方法可以有效地减小试验所需的样本容量。本文对二项分布未知参数的序贯验后加权检验方法进行了分析,得出了在试验之前进行检验问题所需的样本容量和决策阈值的计算方法,并结合电子系统的实际试验结果进行了对比分析,初步确定了该方法对于减小试验样本容量的有效性。

关 键 词：Bayes理论 序贯验后加权检验 样本容量 二项分布 决策阈值 SPOT 

分 类 号：TP207[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]