表面镀铑对X射线荧光能谱测定白色K金首饰成分含量影响的研究  

Surface plated Rh effects the analytical results in ED-XRF analysis of white karat gold jewelery

作　　者：李叶农 

机构地区：[1]福建省测试技术研究所,福建福州350003

出　　处：《福建分析测试》2003年第3期1824-1825,共2页Fujian Analysis & Testing

摘　　要：本文研究表面镀铑对X射线荧光能谱测定白色K金首饰成分含量影响,用一次靶(Rh)测首饰成分含量,用二次靶(Sn)测镀层厚度,系统研究含量与镀Rh层厚度之间函数关系。结果表明随着铑层厚度增加,所测的Au,Ag元素含量将会增加。Cu,Ni元素含量将会减少,因此必须进行修正。Surface plated Rh effects on the analytical results, in ED-XRF analyris of white karat gold jewelries, the content of An and Ag is increasing, the content of Cu and Ni is discreasing when the thichness Rh coating is increasing.

关 键 词：铑 X射线荧光能谱分析 成分测定 镍 钯 黄金饰品 

分 类 号：TS934.3[轻工技术与工程]