计数抽样在多晶硅外观质量检验中的应用  

作　　者：张园园 付雷 楚东旭 曹俊英 饶学勤 

机构地区：[1]洛阳中硅高科技有限公司,洛阳471023

出　　处：《现代测量与实验室管理》2015年第5期43-45 12,共4页

摘　　要：随着多晶硅行业的发展,对内在质量严格控制的同时,对外在质量的要求也日趋提高,因此寻求一种经济合理的外观质量抽样检验方法迫在眉睫。本文依据抽样标准,对于小批量多晶硅外观质量的检验以声称质量水平的评定程序制定抽样方案^([1]),对于大批量的多晶外观质量的检验以接收质量限(AQL)检索的方法制定抽样方案^([2]),在一定的风险控制下,实现生产方与使用方的双赢。

关 键 词：多晶硅 外观质量 抽样方案 风险控制 

分 类 号：F203[经济管理—国民经济] TN304.12[电子电信—物理电子学]