MOS电容器指数衰减瞬时电流的分析  

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》2003年第6期68-68,共1页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

关 键 词：MOS电容器 指数衰减 瞬时电流 金属氧化半导体 

分 类 号：TM53[电气工程—电器]