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作 者:吕军鸿[1] 吴世英[1] 王国华[1] 雷晓玲[1] 黄一波[1] 孔祥银[2] 陈润生[3] 朱立煌[4] 李民乾[1] 胡钧[1]
机构地区:[1]中国科学院上海原子核研究所,上海201800 [2]中国科学院上海健康科学研究中心,上海200025 [3]中国科学院生物物理研究所,北京100101 [4]中国科学院遗传与发育研究所,北京100101
出 处:《电子显微学报》2003年第3期185-188,共4页Journal of Chinese Electron Microscopy Society
基 金:中国科学院知识创新重大项目 (No .KJCX1 0 6;KSCXI 0 6) ;中国科学院特别支持项目 ( (No .STZ 0 0 0 7) ;中国科学院项目配套基金 ;国家基金委九五重大项目 ( (No .19890 3 85 ) ;上海市优秀学科带头人资助计划 ( (No .0 0XD14 0 2 9)资助
摘 要:报道了一种对DNA单分子进行精细的纳米定位切割和拾取的技术。首先用分子梳技术将DNA拉直固定在经 3 氨基丙基三乙氧基硅烷修饰的云母基底上 ,然后通过精细控制原子力显微镜针尖与DNA样品之间的作用力 ,实现了对DNA链的定位切割和拾取。这种方法不仅可制备应用于临床遗传诊断和致病基因的定位等多种的微小DNA探针 。A technology for refined dissection and picking up of single DNA molecules at nanometer level has been demonstrated in this paper. DNA molecules were adsorbed on a 3 aminopropyl triethoxysilane coated mica substrate and stretched by molecular combing technique. The nanodissection and picking up of DNA strands at the desired position was realized by the fine control of the force between the atomic force microscope (AFM) tip and DNA sample. This method could be used to not only prepare small DNA probes which have great potential application both in clinic genetic diagnosis and positional cloning genes, but also develop a new strategy for ordered DNA sequencing.
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