软件故障暴露率的计算方法  

Computation Method of Software Faults Exposure Ratio

作　　者：宫云战[1] 高文玲[1] 李晓维[2] 

机构地区：[1]装甲兵工程学院信息工程系,北京100072 [2]中国科学院计算技术研究所信息网络研究室,北京100080

出　　处：《计算机辅助设计与图形学学报》2003年第6期751-754,759,共5页Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics

基　　金：国家自然科学基金 ( 90 2 0 70 0 2 );总装备部"十五"预研项目基金( 4 13 15 0 5 0 10 7)资助

摘　　要：软件的故障暴露率是软件测试和软件可靠性测试的一个重要参数 ,对高可靠性软件特别是军用软件的可靠性评估有关键的作用 根据PIE分析技术 ,给出软件单个故障或多个故障随机测试的效率分析 ,并以此为基础 ,给出软件故障暴露率的计算方法 。The efficiency of random testing for single and multiple faults is analyzed according to PIE technique, and the computation method of software faults exposure ratio is formulated This approach establishes the relation between the time of software testing and its software faults exposure ratio, which is very important for assessing the reliability of software

关 键 词：故障暴露率 软件测试 可靠性 军用软件 检测概率 

分 类 号：TP311.5[自动化与计算机技术—计算机软件与理论] E91[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]