SOC系统设计技术发展与挑战  

The Challenges and Development of the DesignTechnique for SOC

作　　者：焦慧芳[1,2] 贾新章[1] 

机构地区：[1]西安电子科技大学微电子研究所,陕西西安710071 [2]信息产业部电子第五研究所,广东广州510610

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》2004年第2期55-59,共5页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

摘　　要：从SOC技术的基本概念和设计流程出发,介绍了SOC设计的关键技术,讨论了SOC在设计方法、工艺实现和性能测试等方面的技术挑战。同时展望了SOC技术的发展趋势,阐述了SiP技术与SOC技术的相关关系及SIP的技术优势。This paper presents the basic conception and design flow of SOC, the key techniques for SOC design and the challenges about design methods, manufacturing process and functional test for SOC. It discusses the development frend of SOC technology, the relationship between SOC and SiP and the advantages of SiP.

关 键 词：系统级芯片 SIP IP模块 专用集成电路 

分 类 号：TN402[电子电信—微电子学与固体电子学]